这份《品质歷程(QC Story)》案例报告是188金宝搏苹果下载 在几年前写的，当时仅提供留言后索取PDF档案的四张图片，现在则把它写成部落格文章给大家参考。
品管歷程的重点其实就是把整个品质改善过程当成一个故事来说给听者(长官或相关人员）了解，所以报告中经常需要运用到许多的品管工具与图表来辅助说明。
《品质歷程(QC Story)》的报告方式基本上就是让写报告者有一个可以遵循的步骤与范例，将报告写出来，让读报告的人可以清楚了解品质问题发生的来龙去脉与解决方法。如果你还不是很清楚什么是《品质歷程(QC Story)》，可以参考这两偏文章：
QC story品质改善歷程(故事)方法解说
News Letter: 「QC Story Sheet 单张表格」开放索取
（对于大陆那些盗文网站，复制贴上本站文章后，居然还改成自己公司的名字，感到无耻！文章内容部份防止复制编排可能造成您阅读的不便，请见谅！）
QC story for Tranz1230 Quality Improvement
Tranz1230生产良率改善的品质歷程
Prepared by: 188金宝搏苹果下载
Created date: 20-Aug-2012
1. Problem Selected（主题选定）:
Yield rate improvement for Tranz1230 product final assembly.
Tranz1230产品组装良率改善。
2. Why selected（为何选择这个主题）:
The target yield rate is 95% for New product Manufacture Release sign off.
根据公司规定要求，新产品量产前的良率至少必须达到95％以上，而且不良率必须持续改善以避免停线风险。
3. Current Status（现况评估）:
Tranz1230 got low yield rate. The yield rate trends to worse from 90.6% down to 66.1% and loses control.
生产线反馈产品良率报告偏低，且Tranz1230的产品良率有持续下降的趋势，根据生产修理报表及资料收集后显示原本的良率区间落在85～91％之间(2/23~3/16)，但自从4/1后良率就一直下降，而在4/6降低到66.1％，产线因而停线。
4. Defect Analysis（不良原因分析）:
4.1 Data collection（资料收集）
The defect mode analysis show 1) IPP RAM test fail, 2) Swiping card fail, and 3) Display fail are top three defect issues.
根据修理报表，分析现况资料后，其不良现象的前三名分别为（当初这张柏拉图图表做得不漂亮啊！）：
1) 记忆体测试不良(IPP RAM test fail) ，有58%。
2) 刷卡不良(swiping card fail)，有21%。
3) 萤幕显示不良(Display test fail) ，有9%。
4.2 Defect Symptom Analysis（不良原因分析）
As analysis and find almost the IPP RAM test fail units can be fixed by following step:
1）Disassemble top and bottom case screw.
2）Lift IPP Assembly frame parts then put it back to original position without any rework or replacement.
3）Re-screw up top and bottom case.
Reviewed the structure of Tranz1230 design. There are two zebra stripes inside the IPP Assembly that locates between both Display and System board as security junction. If the zebra disconnects between Display and System boards then unit will get IPP RAM test fail. So, we do focus on why these zebra stripes will contact fail between Display or System boards.经过分析之后发现，发现几乎所有的记忆体测试不良(IPP RAM test fail)现象都可以经由下列的步骤修理恢復：
1. 拆开产品上下外壳的螺丝。
2. 把安全框组件(IPP Assembly frame parts)抬起，然后不做任何动作再重新放置回原来位置。
3. 重新锁上螺丝。经过重新检视整个Tranz1230产品的组装结构后，发现这个安全框组件使用两个硅胶导电条(zebra strip rubber)来当作显示电路板与系统电路板之间的电气讯号连接装置可能有问题，如果这两个硅胶导电条的安装有问题或是接触不良，就会发生记忆体测试不良的现象。
另外我们也发现这两个硅胶导电条如果有接触不良或是阻抗过大，也会连带的引起刷卡不良(swiping card fail)及萤幕显示不良(Display test fail)等现象。
According to above fish bone diagram, we highlighted four potential causes as action items.
根据鱼骨图(要因分析图)分析的结果，我们选定四个可能的主要原因採取对策：
- 电路板的接触点或是硅胶导电条有灰尘沾污。
- 硅胶导电条的安装不良导致变形引起接触不良。
- 硅胶导电条与安全框软板间阻抗异常。
- 硅胶导电条或安全框软板来料不良。
5. Actions（改善对策）:
1. Asking clear the dust and contamination before assembling the zebra stripes and IPP frame assembly parts.
–>No different for the yield rate improvement.
组装硅胶导电条与安全框组时，要求先清除在接触点上的所有的灰尘与沾污。（结果：品质改善无差异）2. Build a fixture to align zebra strip in the middle of SHROUD holder.
–>Yield improved.
制作硅胶导电条的组装治具，这个治具重新定义并要求更精准的治具安装尺寸，而且增加压力避免硅胶导电条组装时有变形的现象发生。（结果：良率有大幅改善）3. Making extra test fixture to test the resistance value between the zebra-strip and security-film. There is no big different for the yield rate improve after implement the test fixture.
为此我们新增制作了测试治具来检测安全框组件的电气特性，但对于品质改善并没有太大的帮助。（结果：品质改善无差异）4. Making extra fixture to test the zebra strip and IPP film resistance.
–>No different for the yield rate improvement.
新增测试治具加检硅胶导电条与安全软板的来料阻抗。（结果：品质改善无差异）
6. Results（结果评估）:
There is no big yield improvement for the Action 1, 3, and 4. We will say these three actions are failed.
For Action 2 that applying correct fixture to assemble zebra and IPP film into Shell got good result. The yield rate was improved from 66.1% to 91.5% (refer to below yield rate chart).
对策1, 3, 4对产品良率并没有太大的改善。而对策2使用正确的硅胶导电条的组装治具后，产品良率即从66.1%上升到91.5%，获得大幅的改善，后续良率更持续改善达到95%符合量产的良率。
7. Standardization（标准化）:
SOP of TPE-01169 Rev.B was released on Apr-11-2012 and asked to apply correct assembly fixture and also add the inspection criteria for the zebra strip position checking.
标准作业指导书TPE-01169 Rev.B已经在Apr-11-2012更改并且发行，要求作业时必须使用正确的硅胶导电条的组装治具，而且还规定硅胶导电条的检验标准。
8. Problems remaining（残留问题）:
Current yield rate is 97.2% and there still a defect rate needs to be improved.
现在的产品良率是97.2%，仍然还有部份不良需要持续改善。
9. Future plans（展望未来）:
Need to focus on another zebra strip installation for the IPP ASSEMBLY. If this zebra don’t be installed well then it will bring Display fail and swiping card fail too.
仍然需要持续改善并控制另一个硅胶导电胶条的组装，因为这个硅胶导电胶条如果组装不良，仍然会造成刷卡不良(swiping card fail)与 显示不良(Display test fail)。
不知道看官们有没有发现，这样一份「品质歷程(QC story)」报告似乎比较适合留存纪录备查、给后人查询参考之用，如果要拿这样的Report上台报告似乎就有点冗长不太合适了，要上台报告讲给老闆听的建议用「单张的品质歷程」(如文章最上面的图)。
延伸阅读：
柏拉图分析 (Pareto Chart)介绍
品管七大工具－层别法的介绍与使用
特性要因分析图(Cause & effect Analysis)介绍
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